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???100 ℃에서 R100의 저항 값?0 ℃에서 R0 저항 값?우리는 IEC751 규격 TCR 라인에 제공 = 0.003851 백금 저항 소자는, 또한,도 백금 저항 온도 등 TCR과 같은 다른 요소의 계수 = 0.003750 등을 고객에게 제공 할 수있다.?2. 백금 저항 온도 소자 - 저항 특성?RT = R0 [1 + AT-BT2-CT3 (T-100)]?온도 T에서의 RT 저항치?제로 R0 저항치?A B C 형 계수?TCR은 0.003851 요인 경우를 =?온도??B?C ??T <0?3.9080210-3?5.8019510-7?4.2735110-12?T≥0?3.9080210-3?5.8019510-7?0?3. 오류 백금 저항 소자?수평?때 제로 저항 오차 (%)?온도 오류 (℃)?온도 계수 TCR 오류 (옴 / 옴 / ℃)?1 / 3DIN?0.04?(0.10 + 0.0017 | T |)?0.0038510.000004 ??0.06?(0.15 + 0.002 | T |)?0.0038510.000005?B?0.12?(0.30 + 0.005 | T |)?0.0038510.000012?(b)?0.25?(0.60 + 0.01 | T |)?0.0038510.000024?백금 저항 소자의 안정성 4.?양호한 장기간 안정성을 갖는 백금 저항 소자. 예를 들어 400 ℃에서 CRZ-1632 300 시간 지속 시간, 0 ℃ 드리프트에서의 최대 온도에만 0.02 ℃입니다. ?5. 열적 응답 시간 백금 저항 소자?모델?열적 응답 시간 T0.9 (S)?공기?물?V = 1.0M / s의?V = 3.0M / s의?CRZ-1632?(10)?(7)?0.3?CRZ 2005?(16)?(11)?0.3?제자가 발열 시험 전류 백금 저항 소자?테스트 전류 백금 저항 소자 테스트 전류가 1mA 0으로 자기 발열 온도가 상승되면 CRZ-1632, 0 ℃ 교반 물에 침지 충전재 φ8mm 보호 튜브에 장착 된 임의의 요소가없는 등, 허용 값을 초과하지 않아야 0.05 ℃, 경우 5mA의 전류 시험, 2.2 ℃의 자기 발열 온도 상승.?7. 백금 저항 소자의 자기 발열 계수?모델?열전달 계수 사람 (MW / ℃)?공기?정수의?V = 1.0M / s의?여전히?CRZ-1632-100?이?(1)?(12)?CRZ-2005-100?4?이?(20)?CRZ - 2,005에서 1,000 사이?4?이?(20)?8. 온도 - 저항 테이블?공칭 저항 (Ω)?(100) ?(500)?1,000?TCR (10-6 / K)?3,851?온도 (℃)?저항 ([오메가)?-50?80.31?401.53?803.07?0?100.00?500.00?1000.00?(50)?119.40?596.98?1193.95?(100)?138.51?692.50?1385.00?(150)?157.33 ?786.57?1573.15?(200)?175.86?879.20?1758.40?(250)?194.10?970.37?1940.74?(300)?212.05?1060.09?2120.19?(350)?229.72?1148.37?2296.73?(400)?247.09?1235.19?2470.38?(450) ?264.18?1320.56?2641.12?(500)?280.98?1404.48?2808.96?(550)?297.49?1486.95?2973.90?(600)?313.71?1567.97?3135.94?(650)?329.64?1647.54?3295.08?CRZ 박막 장치 응용 프로그램주의 :?온도 센서 소자 1. 직 만들어 사용 온도 측정은 짧은 시간은 제품 수명을 손상하고 또한 정밀도에 영향을하지는 않지만, 상기 온도 범위를 초과하지 않도록하는 경우.?2. CRZ 온도 센서 소자 어셈블리는 에폭시 포팅 경화 고온의 사용은 경화 공정 동안 응력의 변화에주의를 기울여야한다, 또는 구성 요소 (일반적으로 개방)가 손상 될 수 있으며, 산화 마그네슘 또는 산화 알루미늄 충전재의 사용 프로세스, 직접 접촉 부재 날카로운 보호관 내면 피해야 진동 과정에서,이 타일 에지 소자 손상, 개방 회로 소자에 의한 손상을 할 수있다.?온도 센서를 만드는 3. 감소 된 전기 절연 제품을 초래할 것이다 절연 포팅 재료의 높은 수준을 보장 할 필요가 있고, 테스트 데이터 요소의 영향은 일반적으로 낮은 테스트 저항 값을 초래할 것이다.
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